Open access
Jurnal
Pembuatan Program Penghitung Parameter Kisi Kristal Suatu Material Berdasarkan Pola Difraksi Sinar-X (Xrd) Menggunakan Metode Analitik dan Metode Cohen
Jurnal Aplikasi Fisika · Vol. 14 No. 1 (2022) · pp. 1–10
ISSN 1858-4020
Published 2022-04-17
Publisher Universitas Halu Oleo
Language eng
Abstract
Penelitian ini bertujuan untuk menghitung parameter kisi kristal (a dan c) suatu material berdasarkan pola difraksi sinar-x (XRD) menggunakan metode Cohen berstruktur kubik, heksagonal, dan tetragonal menggunakan bahasa pemrograman Borland Delphi 7.0. Data diperoleh dari database ICDD-JCPDS (International Center for Diffraction Data - Joint Comitte on Powder Diffraction Standard) dan dari hasil eksperimen dengan panjang gelombang ( ) 1,54056 Å. Hasil perhitungan parameter kisi a dan parameter kisi c metode analitik dan metode Cohen diperoleh sesuai dan mendekati parameter kisi database rujukan, terbukti dengan kecilnya nilai perbedaan parameter kisi (deltaE) perhitungan yang diperoleh. deltaE Data JCPDS dengan rentang 0,0–0,3 dan deltaE data hasil eksperimen dengan rentang 0,37-1,19. Hal ini menunjukan bahwa metode Cohen dapat menghitung parameter kisi kristal dengan hasil yang baik.
Collaboration network of the authors
12 authors ·
34 co-authorship links
Hover or tap a name to highlight its co-authors. Double-click to open the author's page.
Universitas Halu Oleo Affiliation unknown
Different organisations
Same organisation
Affiliation unknown
Thicker line = more joint articles · bigger circle = more articles
Show as table
Affiliations come from OpenAlex; journal OAI-PMH metadata carries none. Authors without an OpenAlex ID are matched by name, which can merge or split people.
Metadata source: OAI-PMH (metadata jurnal) https://ojs.uho.ac.id/index.php/JAF/oai,
first harvested 30 Okt 2026,
last seen 1 Nov 2026.
Original metadata (oai_dc)
<oai_dc:dc xmlns="http://www.openarchives.org/OAI/2.0/" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/" xmlns:oai_dc="http://www.openarchives.org/OAI/2.0/oai_dc/" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xsi:schemaLocation="http://www.openarchives.org/OAI/2.0/oai_dc/ http://www.openarchives.org/OAI/2.0/oai_dc.xsd">
<dc:title xml:lang="en-US">Pembuatan Program Penghitung Parameter Kisi Kristal Suatu Material Berdasarkan Pola Difraksi Sinar-X (Xrd) Menggunakan Metode Analitik dan Metode Cohen</dc:title>
<dc:creator>Sukmawati A, Wa Ode</dc:creator>
<dc:creator>Variani, Viska Inda</dc:creator>
<dc:creator>Yaminsih, Fitrah</dc:creator>
<dc:subject xml:lang="en-US">parameter kisi; sinar-X; difraksi; dan kristal</dc:subject>
<dc:description xml:lang="en-US">Penelitian ini bertujuan untuk menghitung parameter kisi kristal (a dan c) suatu material berdasarkan pola difraksi sinar-x (XRD) menggunakan metode Cohen berstruktur kubik, heksagonal, dan tetragonal menggunakan bahasa pemrograman Borland Delphi 7.0. Data diperoleh dari database ICDD-JCPDS (International Center for Diffraction Data - Joint Comitte on Powder Diffraction Standard) dan dari hasil eksperimen dengan panjang gelombang ( ) 1,54056 Å. Hasil perhitungan parameter kisi a dan parameter kisi c metode analitik dan metode Cohen diperoleh sesuai dan mendekati parameter kisi database rujukan, terbukti dengan kecilnya nilai perbedaan parameter kisi (deltaE) perhitungan yang diperoleh. deltaE Data JCPDS dengan rentang 0,0–0,3 dan deltaE data hasil eksperimen dengan rentang 0,37-1,19. Hal ini menunjukan bahwa metode Cohen dapat menghitung parameter kisi kristal dengan hasil yang baik.</dc:description>
<dc:publisher xml:lang="en-US">Universitas Halu Oleo</dc:publisher>
<dc:contributor xml:lang="en-US"></dc:contributor>
<dc:date>2022-04-17</dc:date>
<dc:type>info:eu-repo/semantics/article</dc:type>
<dc:type>info:eu-repo/semantics/publishedVersion</dc:type>
<dc:type xml:lang="en-US">Peer-reviewed Article</dc:type>
<dc:format>application/pdf</dc:format>
<dc:identifier>https://ojs.uho.ac.id/index.php/JAF/article/view/24908</dc:identifier>
<dc:source xml:lang="en-US">Jurnal Aplikasi Fisika; Vol 14, No 1 (2018): JAF, Februari 2018; 1-10</dc:source>
<dc:source>1858-4020</dc:source>
<dc:language>eng</dc:language>
<dc:relation>https://ojs.uho.ac.id/index.php/JAF/article/view/24908/pdf</dc:relation>
<dc:rights xml:lang="en-US">Copyright (c) 2022 Jurnal Aplikasi Fisika</dc:rights>
<dc:rights xml:lang="en-US">http://creativecommons.org/licenses/by/4.0</dc:rights>
</oai_dc:dc>
Citations and indexing
OpenAlex
Not found
Crossref
Not found
Counts as reported by each index on 31 Okt 2026; indexes count citations differently.
Cite this article
APA 7
Sukmawati A, W. O., Variani, V. I., & Yaminsih, F. (2022). Pembuatan Program Penghitung Parameter Kisi Kristal Suatu Material Berdasarkan Pola Difraksi Sinar-X (Xrd) Menggunakan Metode Analitik dan Metode Cohen. Jurnal Aplikasi Fisika, 14(1), 1–10. https://ojs.uho.ac.id/index.php/JAF/article/view/24908
Copy
IEEE
W. O. Sukmawati A, V. I. Variani, and F. Yaminsih, “Pembuatan Program Penghitung Parameter Kisi Kristal Suatu Material Berdasarkan Pola Difraksi Sinar-X (Xrd) Menggunakan Metode Analitik dan Metode Cohen,” Jurnal Aplikasi Fisika, vol. 14, no. 1, pp. 1–10, 2022.
Copy
Generated from the journal's metadata; check author names before use.